一、產(chǎn)品描述：
X射線管位于分析樣品上方，zui大程du減少了真空室內(nèi)飄散粉末損壞光管的風(fēng)險，并且無需在進(jìn)行粉末樣品分析時使用粘合劑，使樣品制備更快捷簡便。
可在慢速和快速直接切換抽真空和卸真空速率，使粉末和金屬樣品的樣品處理量達(dá)到理想狀態(tài)。
該光譜儀使用波長色散技術(shù)，通過將入射的X射線束通過晶體進(jìn)行衍射，使不同能量的X射線在探測器上形成不同位置的信號峰。這些信號峰對應(yīng)于不同元素的特定能級躍遷。通過測量這些信號峰的強度和位置，可以確定樣品中各種元素的含量。
波長色散X射線熒光光譜儀在材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)、環(huán)境監(jiān)測、金屬分析等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。它提供了一種快速、準(zhǔn)確、無損的方法來確定樣品中各種元素的含量，幫助科學(xué)家和工程師進(jìn)行研究和質(zhì)量控制。
二、特點：
1、實現(xiàn)粉末、固體樣品不同元素不同含量的高精度分析
3、高精度定位樣品臺滿足合金分析高精度要求
3、特殊光學(xué)系統(tǒng)減少樣品表面不平而引起的誤差
4、樣品室可簡單移出方便清潔
5、操作界面簡潔、自動化程度高
三、 產(chǎn)品性能
Rigaku ZSX Primus III +以很少的標(biāo)準(zhǔn)在各種樣品類型中快速定量測定從氧氣(O)到鈾(U)的主要和次要原子元素。
1、高于光學(xué)元件的管道，可靠性更高
ZSX Primus III +具有創(chuàng)新的光學(xué)上述配置。由于樣品室的維護(hù)，再也不用擔(dān)心被污染的光束路徑或停機(jī)時間。光學(xué)元件以上的幾何結(jié)構(gòu)消除了清潔問題并延長了使用時間。
2、高精度樣品定位
樣品的高精度定位確保樣品表面與X射線管之間的距離保持恒定。這對于要求高精度的應(yīng)用很重要，例如合金分析。ZSX Primus III +采用*的光學(xué)配置進(jìn)行高精度分析，旨在最大限度地減少樣品中非平坦表面引起的誤差，如熔融珠和壓制顆粒
3、使用EZ-scan軟件的SQX基本參數(shù)
EZ掃描允許用戶在未事先設(shè)置的情況下分析未知樣品。節(jié)省時間功能只需點擊幾下鼠標(biāo)并輸入樣品名稱。結(jié)合SQX基本參數(shù)軟件，它可以提供最準(zhǔn)確，最快速的XRF結(jié)果。SQX能夠自動校正所有的矩陣效應(yīng)，包括線重疊。SQX還可以校正光電子(光和超輕元素)，不同氣氛，雜質(zhì)和不同樣品尺寸的二次激發(fā)效應(yīng)。使用匹配庫和完mei的掃描分析程序可以提高準(zhǔn)確度。
四、特征：
1、元素從O到U的分析
2、管道上方的光學(xué)器件使污染問題最小化
3、占地面積小，使用的實驗室空間有限
4、高精度樣品定位
5、特殊光學(xué)元件可減少曲面樣品表面造成的誤差
6、統(tǒng)計過程控制軟件工具(SPC)
7、吞吐量可以優(yōu)化疏散和真空泄漏率
產(chǎn)品型號：ZSX Primus III+
